《电子测试》ElectronicTest创刊于1994年，曾用刊名《微电子测试》，是经中国新闻出版总署批准，由北京自动测试技术研究所主办，北京市科学技术研究院主管，北京市工商局备案，国内外公开发行的科技类核心期刊，通过邮局征订，面向全国发行，国标标准刊号：ISSN：1000-8519，国内统一刊号：CN：11-3927/TN，邮发代号：82-870，是专注于电子测试方面的科技类学术刊物。
自创刊以来，《电子测试》一直受到研究所、企业的开发、生产、质检工程师和院校师生的喜爱。自2007年1期开始，《电子测试》的内容将更侧重于测试技术和产品解决方案。为了更加符合读者的需求，突出杂志的实用性、启发性、学习性、传播性，让《电子测试》真正成为读者案头的工具书，成为专业人士了解国内外测试行业最新发展趋势和最新热点的窗口。
栏目设置：
设计研发；电子科技；解决方案；智能应用；机械世界；数字时代；信息工程；行业动态；教育探索；学术交流；科技论坛等
收录情况：
国家新闻出版总署收录、中国学术期刊网全文数据库收录期刊、中国学术期刊综合评价数据库统计源期刊,知网优秀期刊，400期刊网年度优秀期刊，万方优秀期刊杂志全文数据库收录。
